V dňoch 18. a 19. novembra na pôde Ústavu materiálov MTF STU prebieha medzinárodný seminár pod názvom „Nové trendy v diagnostike materiálov“. Za vedenie ústavu seminár slávnostne otvoril doc. Kusý. Po privítaní účastníkov seminára doc. Čaplovič oboznámil s činnosťou Centra excelentnosti pre diagnostiku materiálov a prvými skúsenosťami a aplikačnými možnosťami elektrónového rastrovacieho mikroskopu JEOL JSM 7600F. Nasledovali prednášky pána Shunsuke Asahina – zástupcu firmy JEOL, Martyna Greena, Keitha Dicksa a Radima Rybku, zástupcov firmy Oxford Instruments. O svoje skúsenosti s využitím elektrónovej mikroskopie v analýze, diagnostike a identifikácii širokého spektra materiálov sa s prítomnými podelili aj prednášajúci z vysokoškolského prostredia. 19. novembra pokračuje seminár prednáškami v kombinácii s prehliadkou Centra excelentnosti a praktickými demonštráciami.
Mgr. Magda Péteryová