Vysokorozlišovací rastrovací elektrónový mikroskop JEOL JSM7600F
- pracuje v režimoch sekundárnych a odrazených elektrónov s rozlíšením 1 nm pri 15 kV. Pracovné napätie sa dá menit od 0,3 do 30 kV. Max. prúd elektrónového zväzku dosahuje hodnotu väcšiu ako 200 nA. Má spektrometre EDX, WDX a EBSD, ktoré dokážu identifikovat chemické zloženie a kryštalografické charakteristiky v mikroobjemoch analyzovaných materiálov. Technika „gentle beam“ umožnuje pozorovnávat nevodivé vzorky. Mikroskop analyzuje povrchové vrstvy kovových a nekovových materiálov v reálnom stav (degradácia, fraktografia) a materiálografických výbrusov.
(prihlasovacie meno a heslo môže udeliť zodpovedný pracovník)
ROZVRH OBSADENOSTI PRE
